Testarea HTOL tradițională se bazează doar pe simulări individuale de-temperatură ridicată, nereușind să reproducă condițiile complexe de funcționare ale vehiculelor reale. Acest lucru are ca rezultat „date conform-laboratorului, dar eșecuri de producție”, irosirea investițiilor în cercetare și dezvoltare și întârzierea lansării pe piață, devenind astfel un blocaj critic care împiedică comercializarea cipurilor de calitate-auto.
Fiind o platformă de testare-terță autorizată, certificată de mai multe ministere, inclusiv Ministerul Industriei și Tehnologiei Informației și Comisia Națională pentru Dezvoltare și Reformă, GRGTEST s-a specializat în verificarea fiabilității cipurilor-automotive de ani de zile. Trecând dincolo de judecata empirică, adoptăm standardul AEC-Q100 ca metodologie de bază, utilizând modele științifice: prin modelele cinetice Arrhenius combinate cu calcule precise ale energiei de activare a dispozitivului de siliciu (0,7eV) și constantă Boltzmann (8,6×10⁻⁵⁵eV/K), integrăm datele de laborator accelerate de temperatură{9}de temperatură{8}de laborator reală parametrii de mediu ai vehiculului pentru a prezice cu exactitate durata de viață a cipului. Această abordare îi ajută pe producători să abordeze în mod preventiv probleme critice, cum ar fi „trecerea specificațiilor de testare, dar întâmpinarea-defecțiunilor reale”. Până în prezent, am validat peste 100 de modele, inclusiv MCU, cipuri AI și cipuri de securitate, am produs aproape 900 de rapoarte de certificare AEC-Q și AQG324 și am facilitat producția de masă pentru peste 100 de componente de calitate-auto.
Vrei să știi cum să potriviți cu exactitate durata de viață de 15-ani a unui cip prin testarea la temperatură ridicată la 125 de grade? Următoarea secțiune detaliază „metodologia de predicție a duratei de viață a cipului” proprietară a producătorului, folosind exemple de calcul specifice!
Model de accelerare la temperatură înaltă:
Modelul Arrhenius
Principiul de bază: Luând în considerare doar efectul accelerator al stresului termic asupra defecțiunii, derivat din ecuația Arrhenius în cinetica chimică:
Formula si parametri:
AF(T): factor de accelerare a temperaturii (fără unitate)
EA: Energia de activare (de obicei 0,2–1,4 eV pentru dispozitivele cu siliciu, 0,7 eV fiind valoarea standard)
K: constanta Boltzmann (8,6×10⁻⁵ eV/K)
T Aplicație: Temperatura reală de funcționare (unitate: K)
Aplicație vT: temperatură de testare accelerată (unitate: K)
Exemplu: un cip pentru vehicule-cu o durată de viață estimată de 12.000 de ore pe o perioadă de 15 ani funcționează la o temperatură medie de joncțiune de 87 de grade . Având în vedere o limită de temperatură maximă (HTOL) de 125 de grade, câte ore de funcționare ar fi necesare?
Specificați parametrii de intrare:
Durata reală de utilizare: T=12.000 h (timp mediu de funcționare corespunzător la 15 ani)
Temperatura reală a joncțiunii de funcționare: T=87 grade (de transformat în Kelvin K)
Temperatura de testare: T=125 grade (de transformat în Kelvin K)
Energie de activare: EA=0.7 eV (energie de activare tipică pentru eșecul de funcționare a cipului)
Constanta Boltzmann: k=8.6×10⁻⁵ eV/K
Conversia temperaturii (Kelvin K):
Temperatura necesară este temperatura termodinamică (Kelvin). Formula de conversie: T(K)=T( grad ) + 273.15
Temperatura reală a joncțiunii: T=87+273.15=360.15K
Temperatura de testare: T=125+273.15=398.15K
Calculați factorul de accelerație Af:
Durata experimentelor de calcul și a concluziilor:
T=12000/{8.61=1393 ore, prin urmare HTOL la 125 de grade necesită 1393 de ore.
Service Auto GRGTEST
GRGTEST este prima instituție de testare-de stat terță-din China, listată la bursă, care a obținut certificarea completă pentru automobile AEC-Q100, cu experiență vastă în verificarea fiabilității cipurilor-auto. Adresându-se pieței de cipuri pentru automobile, GRGTEST a stabilit capabilități cuprinzătoare de testare pentru componente analogice, digitale și senzori, oferind întreprinderilor de proiectare servicii de testare și testare a fiabilității. Instituția acceptă cerințele de testare HTOL (High Temperature, Low Voltage) pentru cipuri cu un consum de energie cuprins între 0 și 150W și diferite arhitecturi de ambalare, oferind în același timp teste de fiabilitate care acoperă condițiile de mediu, durata de viață, performanța electrică și proprietățile mecanice.